ファイル:Illustration of C-V measurement.gif
表示
Illustration_of_C-V_measurement.gif (322 × 308 ピクセル、ファイルサイズ: 93キロバイト、MIME タイプ: image/gif、ループします、18 フレーム、5.4秒)
ファイルの履歴
過去の版のファイルを表示するには、その版の日時をクリックしてください。
日付と時刻 | サムネイル | 寸法 | 利用者 | コメント | |
---|---|---|---|---|---|
現在の版 | 2010年5月17日 (月) 19:26 | 322 × 308 (93キロバイト) | Beatnik8983 | {{Information |Description={{en|1=C-V measurements can reveal oxide thickness, oxide charges, contamination from mobile ions, and interface trap density in wafer processes. In this image the C-V profile for a bulk p-type substrate MOSCAP with different ox |
ファイルの使用状況
以下のページがこのファイルを使用しています:
グローバルなファイル使用状況
以下に挙げる他のウィキがこの画像を使っています:
- en-two.iwiki.icu での使用状況
- fa.wikipedia.org での使用状況
- hu.wikipedia.org での使用状況
- ru.wikipedia.org での使用状況
- zh-two.iwiki.icu での使用状況