二川清

二川 清（にかわ きよし、1949年 - ）は、日本の技術者である。大阪府出身。

現在、一般的に使われている半導体故障解析技術である、IR-OBIRCHの開発者の一人として知られる。 大阪大学大学院基礎工学研究科物理系修士課程修了。工学博士。現、金沢工業大学大学院工学研究科客員。

主な著書

• 『はじめてのデバイス評価技術』（工業調査会、2000年）
• 『故障解析技術』（日科技連出版社、2008年）
• 『LSIテスティングハンドブック』（編著、オーム社、2008年）
• 『信頼性問題集』（編著、日科技連出版社、2009年）
• 『LSIの信頼性』（編著、日科技連出版社、2010年）
• 『新版 LSI故障解析技術』（日科技連出版社、2011年）

関連項目

• 半導体故障解析
• IR-OBIRCH